FT110A 是一款台式 XRF 分析仪，旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合，有助于提高电镀车间的生产力，同时确保组件符合严苛标准。

准确性和可靠性是支持质量控制的 XRF 分析的核心，而 FT110A 可提供当今电镀组件所需的准确性。更新的成像系统、自动样品定位和大样品台使该分析仪非常易于使用，提高了通量并减少了人为错误。功能强大的 FT110A 能够同时测量多达四层以及基材，将全天候支持您的设施满足行业电镀规范。

FT110A – 测量极小目标

FT110A 帮助诸多的行业确保符合电镀规范，以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。此外，该仪器可减少一系列测量所需的时间，从而帮助提高生产力。

在任何质量保证或质量控制系统中，准确性和可靠性均至关重要，拥有改良的 X 射线荧光技术的FT110A将使您的产品满足最高标准的行业规范要求。

借助更新的成像系统、全新的自动测量定位功能和大型样品台，确保这台镀层分析仪易于使用并提高分析效率。

基于Windows系统的X-ray Station软件提供直观的用户界面，用户可对该仪器进行全面控制。

通过将数据直接整合到 Microsoft™ Word和Excel中来简化您的质量保证/质量控制流程。

为何如此多的实验室改为使用 FT110A？

快速分析

强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。

无损

X 射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹。即使是对敏感性材料，其测量也是安全的；同时无需丢弃被测量过的样品。

多功能性

FT110A 可以分析多达四层镀层和基材。可以使用基本参数 (FP) 或经验校准来测量镀层和材料成分（如金属合金或电镀液）。

易于使用

培训可轻松完成，因此任何人都可以操作 FT110A。只需在工作台上设置样品，借助友好的界面指定测量区域，然后开始记录读数。用户界面可配置为仅显示日常操作所需的功能。

快速分析

强大的高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。

兼容性

测量方法符合标准 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。

产品亮点

专为高通量生产而设计，来看 FT110A 如何支持您的质量控制。

• 强大的高灵敏度技术可在几秒钟内提供结果

• 对成品安全的无损检测

• 自动化功能提高生产力

• 分析多达四层和基材，加上电镀液

• 易于非专业操作员使用

• 测量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987

• 大样品舱可容纳各种样品

• 可定制的选项以适合您的应用